Nouvelle publication sur l’exploitation des ressources de calcul en mémoire pour des tests MBIST natifs, adaptatifs et à faible surcoût
Les équipes du LFIM (CEA-LIST, Grenoble) et du LIRMM (Univ Montpellier, CNRS), en collaboration avec l’INL (CNRS, Ecole Centrale de Lyon), viennent de voir leur article accepté à la 27e édition du European Test Symposium (ETS 2026), qui se tiendra à Hersonissos, en Crète (Grèce), du 25 au 29 mai 2026. Ce travail s’inscrit dans le cadre des recherches sur la fiabilité des mémoires SRAM et l’optimisation des architectures de calcul en mémoire (NMC – Near Memory Computing).
Une approche innovante pour sécuriser les mémoires NMC
L’étude, intitulée « Exploiting Near-Memory Computing Resources for Native, Adaptive, and Low-Overhead MBIST », propose une solution MBIST (Memory Built-In Self-Test) programmable basée sur une machine à états finis (FSM), spécialement conçue pour les architectures NMC. L’objectif est de garantir la fiabilité des mémoires tout en limitant les transferts de données entre processeur et mémoire, un enjeu clé pour réduire la latence et la consommation énergétique.
L’approche développée exploite les ressources logiques existantes dans les architectures NMC pour permettre des tests et diagnostics avancés, avec un surcoût matériel minimal. Les résultats de simulation et de synthèse confirment son efficacité : seulement 5,8 % de surcoût matériel et une exécution 9,5 fois plus rapide qu’une approche basée sur CPU..
Une collaboration académique et industrielle
Ce travail est le fruit d’une collaboration entre plusieurs institutions :
- Sabrina AIT BELKACEM (Univ. Grenoble Alpes, CEA, LIST), diplômée en ingénierie électronique de l’École Nationale Polytechnique d’Alger et titulaire d’un Master 2 en Systèmes Embarqués et Traitement de l’Information de l’Université Paris-Saclay, mène actuellement une thèse sur la sécurisation des mémoires SRAM au LFIM.
- Lila Ammoura (LIRMM, Univ Montpellier, CNRS, maintenant à l’INL, CNRS, Ecole Centrale de Lyon), Marie-Lise Flottes, Patrick Girard, et Arnaud Virazel (LIRMM, Univ Montpellier, CNRS), ainsi que Maria Ramirez-Corrales et Jean-Philippe Noel (Univ. Grenoble Alpes, CEA, LIST).
Une reconnaissance internationale
L’article sera présenté lors d’ETS 2026, une conférence majeure dans le domaine du test et de la fiabilité des systèmes électroniques. Les résultats de cette étude pourraient avoir un impact significatif sur la conception des futures architectures NMC, en particulier pour les applications exigeantes en termes de fiabilité et de performance énergétique.
Pour en savoir plus, consultez le site de la conférence : ETS 2026